Untuk Pertama Kali, Peneliti Berhasil Ambil Foto Sinar X dari Sebuah Atom

Sinyal yang dilihat oleh detektor telah dibandingkan dengan sidik jari. Hal ini memungkinkan peneliti untuk memahami komposisi sampel, serta mempelajari sifat fisik dan kimianya. Hal ini penting untuk meningkatkan kinerja dan penerapan berbagai material yang umum dan tidak terlalu umum. 

“Teknik yang digunakan dan konsep yang dibuktikan dalam penelitian ini membuat terobosan baru didalam ilmu sinar-X dan penelitian skala nano” ucap Tolulupe Michael Ajayi, penulis pertama makalah ini, dan melakukan pekerjaan sebagiannya dari tesis PhD-nya.  

“Lebih dari itu juga, bahwa penggunaan sinar-X untuk mendeteksi dan mengkarakterisasi atom individu dapat merevolusi penelitian dan melahirkan sebuah teknologi baru di berbagai bidang, seperti informasi kuantum dan deteksi elemen jejak dalam penelitian lingkungan dan medis, serta masih banyak lagi. Pencapaian ini juga membuka jalan bagi instrumentasi ilmu material tingkat lanjut”. 

(Ivan Christian Deva)

(Rahman Asmardika)